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  1. 工学部
  2. 工学部・学術誌論文

温度サイクル負荷時における LSI パッケージの封止樹脂クラックに関する解析 : 初期界面はく離の観察とはく離長さの封止樹脂クラック進展への影響評価

http://hdl.handle.net/10232/10505
http://hdl.handle.net/10232/10505
6aed7639-7201-4374-9602-1be4d7f6f2ee
名前 / ファイル ライセンス アクション
AA11231565_v3_n6_p501-508.pdf AA11231565_v3_n6_p501-508.pdf (1.0 MB)
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2015-03-16
タイトル
タイトル 温度サイクル負荷時における LSI パッケージの封止樹脂クラックに関する解析 : 初期界面はく離の観察とはく離長さの封止樹脂クラック進展への影響評価
タイトル言語 ja
タイトル
タイトル オンド サイクル フカジ ニオケル LSI パッケージ ノ フウシ ジュシ クラック ニ カンスル カイセキ : ショキ カイメン ハクリ ノ カンサツ ト ハクリ ナガサ ノ フウシ ジュシ クラック シンテン エノ エイキョウ ヒョウカ
タイトル言語 ja-Kana
タイトル
タイトル Numerical and Experimental Analysis of Resin Cracking in LSI Packages under Temperature Cyclic Loading : An Observation of Initial Site of the Edge-Delamination and the Effect of Delamination Length
タイトル言語 en
著者 齋藤, 武博

× 齋藤, 武博

WEKO 86409

ja 齋藤, 武博

en Saitoh, Takehiro

ja-Kana サイトウ, タケヒロ

Search repository
松山, 英人

× 松山, 英人

WEKO 86410

ja 松山, 英人

en Matsuyama, Hidehito

ja-Kana マツヤマ, ヒデヒト

Search repository
戸谷, 真之

× 戸谷, 真之

WEKO 4393
NRID 1000090026279

ja 戸谷, 真之

en Toya, Masayuki

ja-Kana トヤ, マサユキ

Search repository
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
アクセス権
アクセス権 open access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
要約
内容記述タイプ Other
内容記述 温度サイクル負荷を受けるプラスチックパッケージ内の異材界面はく離の発生部位を特定する目的で, 放射性同位体元素Kr^<85>をトレーサとする気密試験を行った。さらに, はく離が成長するにつれ, それがリードフレームのダイパッド上下コーナ部を起点とする封止樹脂クラックの進展にいかなる影響を及ぼすかに関する数値解析を行った。その結果, Cu合金をリードフレーム材料に用いた場合のはく離発生部位はダイパッド上コーナ部であり, 42合金ではダイパッド下コーナ部であることが推測された。また両者の材料共に, はく離が進展するにつれ, ダイパッド下コーナ部を起点とする封止樹脂クラックはより進展しやすくなり, その進展方向はよりパッケージ底面に垂直な方向へ変化することを指摘した。
内容記述言語 ja
要約
内容記述タイプ Other
内容記述 An experimental study using Kr^<85> radioactive tracer techniques is made to determine the initial site of the edge-delamination between dissimilar materials occurring in LSI plastic packages with either Cu alloy (Cu-2%Sn) or alloy 42 (Fe-42%Ni) leadframe under temperature cyclic loading. It is found from the Kr^<85> penetration test that the initial edge-delamination is expected to occur at the upper corner of the die pad edge for Cu alloy leadframe packages whereas it occurs at the lower corner of the die pad edge for alloy 42 leadframe packages. Numerical stress analysis on the effect of delamination length on the encapsulant resin cracking in the packages is also carried out. The delamination is assumed to be located along the top surface of the die pad for Cu alloy leadframe packages and along the bottom surface of the die pad for alloy 42 leadframe packages. The results of numerical stress analysis show that, in both Cu alloy and alloy 42 leadframe packages, resin cracking starting from lower corner of the die pad edge becomes more likely to occur and cracking direction changes toward the bottom surface of the packages as the delamination extends.
内容記述言語 en
収録雑誌名 ja : エレクトロニクス実装学会誌

巻 3, 号 6, p. 501-508, 発行日 2000-09-01
作成日
日付 2000-09-01
日付タイプ Issued
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
ISSN 13439677
NII書誌ID(雑誌)
収録物識別子タイプ NCID
NC ID AA11231565
権利
権利情報の言語 ja
権利情報 社団法人エレクトロニクス実装学会
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
NDC
主題Scheme NDC
主題 501
公開者・出版者
出版者 社団法人エレクトロニクス実装学会
出版者言語 ja
関連(relation)(relationType設定なし)
識別子タイプ URI
関連識別子 http://ci.nii.ac.jp/naid/110001238226/
備考
備考言語 ja
備考 本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである
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Ver.1 2023-07-25 11:10:41.039238
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